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光学计量仪器
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8W光谱投影仪
用途特点数字式影像测量显微镜，测量范围大，功能多，精度高，可对二维坐标内的：点、线、圆、角及难以测量的园弧、同轴、平行、相交、形状与位置关系及虚拟量等，作数据及影像的精密测量和输出并打印测试结果。系统由变焦物镜、十字线发生器与显示器作为影像采集与瞄准系统，特别具有自动寻边和工件摆正功能。大量程的二维测量工作台、精密光栅传感器和数显表，组成读数及数据处理系统。系统还配置了二维图形测量计算机操作系统（
用途特点数字式影像测量显微镜，测量范围大，功能多，精度高，可对二维坐标内的：点、线、圆、角及难以测量的园弧、同轴、平行、相交、形状与位置关系及虚拟量等，作数据及影像的精密测量和输出并打印测试结果。系统由变焦物镜、十字线发生器与显示器作为影像采集与瞄准系统，特别具有自动寻边和工件摆正功能。大量程的二维测量工作台、精密光栅传感器和数显表，组成读数及数据处理系统。系统还配置了二维图形测量计算机操作系统（
用途特点 用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块，一级精度柱型规及各种圆柱形，球形，线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密零件的加工。 技术参数规格主要技术参数被测件最大长度180mm直接测量范围±0.1mm分划板分度值1μm总放大倍数1000×测量压力（2±0.2）N最大不准确度±0.25μm最大测量误差±（0
用途特点用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状精密量具和零件的外形尺寸作精密测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，生产过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量。 技术参数规格主要技术参数被测件最大长度180mm直接测量范围±0.1mm最小显示值0.1μm测量压力（2±0.2）N示值变动性0.1μm最大不准确度±0.25μm最大测量误
用途特点用来测量精密零件（平面、圆柱等）表面光洁度的仪器，也可以测量表面刻线、镀层等深度。仪器配以各种附件，还能测量微颗粒，加工纹路混乱的表面，低反射率的工件表面，也能将仪器安置在大型工件表面进行测量。仪器测量表面不平深度的范围为1-0.03微米，可用测微目镜和照相方法来评定▽10～▽14光洁度的表面。仪器适用于企业计量室，精密加工车间，及科研和大专院校等单位。 技术参数项目技术参数项目技术参数测
用途特点以光切法测量零件加工表面的微观不平度，能判别国家标准（GB1031-68）所规定▽3-▽9级表面光洁度（表面粗糙度12.5–0.2）。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的，是一种间接测量方法，即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。 技术规格项目技术参数项目技术参数摄影装置放大倍数约6倍测量不平度范围0.8～80μm不平宽度用测微目镜0.7
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8W 光谱投影仪
产品用途光谱投影仪用于对摄谱仪所摄下的光谱底版进行定性及半定量分析，也可作为一般的投影放大之用。进行定性分析时，将被分析的光谱谱片与同时摄下的已知物的光谱谱片相比较，或者与标准光谱谱线表相比较。进行半定量分析时，将被分析的谱线强度与已知成份试样的谱线强度相比较。 技术参数规格主要技术参数规格主要技术参数放大倍数20倍光源50瓦/12伏（变压器AC220V/12V）放大倍数调节范围19.75～20.
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